SST39VF800A-70-4I-MAQE-T IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA Tecnología de microchip

Nombre de la marca Microchip Technology
Número de modelo Se aplicará a los vehículos de las categorías M1 y M2.
Cantidad de orden mínima 1
Precio Based on current price
Detalles de empaquetado Bolsa antistática y caja de cartón
Tiempo de entrega 3 a 5 días hábiles
Condiciones de pago T/T
Capacidad de la fuente En stock

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Datos del producto
Tipo de la memoria Permanente Formato de la memoria FLASH
Tecnología FLASH Tamaño de la memoria 8Mbit
Organización de la memoria 512K x 16 Interfaz de la memoria En paralelo
Frecuencia de reloj - Escriba la duración de ciclo - palabra, página 20µs
Tiempo de acceso 70 ns Voltagem - Suministro 2.7V ~ 3.6V
Temperatura de funcionamiento -40 °C ~ 85 °C (TA) Tipo de montaje Montura de la superficie
Envase / estuche Se aplicarán las siguientes medidas: Paquete de dispositivos del proveedor El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de ef
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Part Number Description
SST39VF800A-70-4I-MAQE-T IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA
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SST39WF1602-70-4C-MBQE IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF1601-70-4C-MBQE IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF1602-70-4I-MBQE IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF400A-70-4C-M1QE IC FLASH 4MBIT PARALLEL 48WFBGA
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SST39VF800A-70-4C-M1QE IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF200A-70-4I-M1QE IC FLASH 2MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF400A-70-4I-M1QE IC FLASH 4MBIT PARALLEL 48WFBGA
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SST39WF1601-90-4I-MBQE IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF1602-90-4I-MBQE IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF400A-90-4I-M1QE IC FLASH 4MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF800A-90-4I-M2QE IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF800A-90-4C-M2QE IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA
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SST39WF1602-90-4C-MBQE IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF400A-90-4C-M1QE IC FLASH 4MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF400A-90-4I-M1QE-T IC FLASH 4MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF1601-70-4C-MBQE-T IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF800A-70-4I-M1QE-T IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF800A-70-4C-M1QE-T IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF1601-70-4I-MBQE-T IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF200A-70-4I-M1QE-T IC FLASH 2MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF200A-70-4C-M1QE-T IC FLASH 2MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF400A-70-4I-M1QE-T IC FLASH 4MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF800A-90-4C-M2QE-T IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF800A-90-4I-M2QE-T IC FLASH 8MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39VF200A-70-4I-MAQE-T IC FLASH 2MBIT PARALLEL 48WFBGA
SST39WF1601-70-4C-Y1QE IC FLASH 16MBIT PARALLEL 48WFBGA
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Descripción de producto

Detalles del producto

Descripción del producto

Los dispositivos SST39LF200A/400A/800A y SST39VF200A/400A/800A son 128K x16 / 256K x16 / 512K x16 CMOS Multi-Purpose Flash (MPF) fabricados con el patentado SST,tecnología CMOS SuperFlash de alto rendimientoEl diseño de la célula de puerta dividida y el inyector de túnel de óxido grueso alcanzan una mayor fiabilidad y fabricabilidad en comparación con los enfoques alternativos.El SST39LF200A/400A/800A escribir (Programa o borrar) con un 3.0-3.6V fuente de alimentación. El SST39VF200A/400A/800A escribir (Programa o borrar) con una fuente de alimentación de 2.7-3.6V. Estos dispositivos se ajustan a los pinos estándar JEDEC para memorias x16.

Características:

• Organizado como 128K x16 / 256K x16 / 512K x16
• Operaciones de lectura y escritura de un solo voltaje
¥ 3,0-3,6 V para SST39LF200A/400A/800A
 2,7-3,6 V para el SST39VF200A/400A/800A
• Confiabilidad superior
Resistencia: 100.000 ciclos (típico)
¢ Retención de datos durante más de 100 años
• Bajo consumo de energía (valores típicos a 14 MHz)
️ Corriente activa: 9 mA (típico)
️ Corriente de espera: 3 μA (típica)
• Capacidad de borrado de sectores
Sectores uniformes de 2 KWord
• Capacidad de borrar en bloque
¢ Bloques uniformes de 32 KWord
• Tiempo de acceso rápido a la lectura
¢ 55 ns para el SST39LF200A/400A/800A
¢ 70 ns para el SST39VF200A/400A/800A
• Dirección y datos bloqueados
• Borrado rápido y programa de Word
Tiempo de borrado del sector: 18 ms (típico)
Tiempo de borrado de bloque: 18 ms (típico)
Tiempo de borrado del chip: 70 ms (típico)
Tiempo de programación de palabras: 14 μs (típico)
Tiempo de reescritura del chip:
2 segundos (típicos) para el SST39LF/VF200A
4 segundos (típicos) para la SST39LF/VF400A
8 segundos (típicos) para el SST39LF/VF800A
• Tiempo de escritura automático
¢ Generación interna de VPP
• Detección del final del texto
️ Bito de cambio
¢ Datos# Encuestas
• Compatibilidad de las entradas y salidas CMOS
• Estándar JEDEC
¢ EEPROM Flash Pinouts y conjuntos de comandos
• Los paquetes disponibles

¢ TFBGA de 48 bolas (6 mm x 8 mm)
️ 48 bolas WFBGA (4 mm x 6 mm)
️ XFLGA de 48 pulgadas (4mm x 6mm) ️ 4 y 8Mbit
• Todos los dispositivos no Pb (libres de plomo) cumplen con la normativa RoHS

Especificaciones

Atributo Valor del atributo
Fabricante Tecnología de microchips
Categoría de productos Interfaces de memoria
Serie La SST39 MPFTM se aplica a los vehículos de las categorías A y B.
Embalaje Embalaje alternativo de cinta y bobina (TR)
Estilo de montaje DSM/SMT
Rango de temperatura de funcionamiento - 40 ° C a + 85 ° C
Cuadro de paquete Se aplicarán las siguientes medidas:
Temperatura de funcionamiento -40 °C ~ 85 °C (TA)
Interfaz En paralelo
Fuente de suministro de tensión 2.7 V ~ 3.6 V
Envase del producto del proveedor El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero.
Capacidad de memoria 8M (512K x 16)
Tipo de memoria El flash.
Velocidad 70 años
Arquitectura Sector
Formatos de memoria El flash.
Tipo de interfaz En paralelo
Organizaciones 512 k x 16
Alimentación de corriente máxima 30 mA
Ancho del bus de datos 16 bits
Válvula de alimentación 3.6 V
Válvula de alimentación 2.7 V
Cuadro de paquete Se aplicará la siguiente regla:
Tipo de tiempo Asíncrono
Componente compatible funcionalFormulario, paquete, componente funcional compatible
Parte del fabricante Descripción Fabricante Comparar
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero.
Memoria
Las medidas de seguridad se aplican a los dispositivos de seguridad de los Estados miembros, incluidos los dispositivos de seguridad de los Estados miembros. Tecnología de almacenamiento de silicio El objetivo de la prueba es evaluar el rendimiento de las pruebas de detección y de detección.
Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de efecto invernadero.
Memoria
Las medidas de seguridad se aplican a los vehículos de las categorías M1 y M2 y a los vehículos de las categorías M2 y M3. Tecnología de almacenamiento de silicio Las pruebas de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de la prueba de
El objetivo de la prueba es el siguiente:
Memoria
Las medidas de seguridad se aplican a los dispositivos de seguridad de los que se trate. Tecnología de almacenamiento de silicio El objetivo de la prueba es evaluar el rendimiento de las pruebas de detección y de detección.
Se trata de una serie de medidas de control de las emisiones de gases de escape.
Memoria
512K X 16 FLASH 2.7V PROM, 70 ns, PBGA48, 4 X 6 MM, 0,50 MM PITCH, conforme con la normativa ROHS, MO-207CB-4, WFBGA-48 Tecnología de microchips Inc. El objetivo de la prueba es evaluar el rendimiento de las pruebas de detección y de detección.
El objetivo de las medidas es:
Memoria
Las medidas de seguridad se aplican a los vehículos de las categorías M1 y M2 y a los vehículos de las categorías M2 y M3. Tecnología de almacenamiento de silicio El objetivo de la prueba es evaluar el rendimiento de las pruebas de seguridad.

Descripciones

Memoria flash IC de 8 Mb (512K x 16) paralelo 70ns 48-WFBGA (6x4)
Flash paralelo 3.3V 8M-bit 512K x 16 70ns 48 pin WFBGA T/R
Memoria flash de 2,7 V a 3,6 V 8 Mbit Multi-Prps Fl